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德國菲希爾cms2/cms2 step臺式庫侖測厚儀 德國菲希爾臺式儀器，使用庫倫法測量幾乎所有金屬鍍層厚度，無論基材是金屬或非金屬，無論鍍層結(jié)構(gòu)是單鍍層還是多鍍層。電解測厚儀又叫做庫侖法測厚儀，應(yīng)用于電鍍層的測厚。電解測厚儀可以解決裝飾鉻層測厚、鎳層測厚、銅層測厚、鋅層測厚、錫層測厚、銀層測厚、金層測厚、鎘、硬鉻、化學鎳、多層鎳等鍍層測厚問題。

COULOSCOPE CMS （庫侖測量系統(tǒng)） COULOSCOPE CMS庫侖電解測厚儀使用庫侖方法測量鍍層厚度。直觀的菜單指引系統(tǒng)，新的可以通過泵控制自動注液和清空測量槽的V18測量臺，以及SPC統(tǒng)計能力

Fischer庫侖法金屬多鍍層測厚儀 COULOSCOPE® CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線路板上剩余純錫的厚度，庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。這個方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。

Couloscope CMS2庫侖測厚儀 這個系列儀器根據(jù) DIN EN ISO 2177 標準的庫侖法。金屬或非金屬基材上的金屬鍍層，通過在控制電流條件下電解腐蝕--------實際上就是電鍍的反過程。所載入的電流與要剝離的鍍層厚度是成正比的，假如電流和剝離面積保持不變，鍍層厚度與電解時間就是成正比的關(guān)系

Couloscope CMS2 STEP庫侖法多鍍層測厚儀 COULOSCOPE® CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線路板上剩余純錫的厚度，庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。這個方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。

Couloscope CMS2 STEP庫侖測厚儀 很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可 以用 cms2 簡單快速地測量。這個方法為任何金屬鍍層 提供了的測量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內(nèi)， 很多 材料不需要預設(shè)定；基材組成和幾何形狀對于測量都是無關(guān)緊要的