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  • Minitest 3100-ElektroPhysik上海公司
    Minitest 3100-ElektroPhysik上海公司

    Minitest 3100-ElektroPhysik上海公司 測量范圍 取決于探頭,見探頭概述 內(nèi)存大 10,000個單獨讀數(shù) 應(yīng)用程序內(nèi)存數(shù)量 每個應(yīng)用程序存儲器的批次數(shù) 具有單個值記憶的批次數(shù)量 100 測量單位微米/密耳 電源1 x 9V堿性電池或交流適配器 電池壽命10,000次測量

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  • Elektrophysik-FH7400
    Elektrophysik-FH7400

    Elektrophysik-FH7400 可無損測厚度高達24mm可用于非磁性材料,如玻璃、合成材料、不銹鋼復(fù)合材料,也可以用于復(fù)雜幾何形狀的對象。 ●非磁性材料合成材料、玻璃、陶瓷、有色金屬… ●各種中空瓶之類的東西,鋁罐、玻璃和具有復(fù)雜幾何1形狀的塑料容器…… ●熱成型部件,像杯、罐、碗…

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  • MiniTest 600-F磁性測厚儀
    MiniTest 600-F磁性測厚儀

    MiniTest 600-F磁性測厚儀:德國EPK公司一直是表面科技的*之一、是無損涂層厚度測量的。 ElektroPhysik公司(簡稱EPK)總部位于德國科隆,是生產(chǎn)表面檢測儀器的,有超過60年的市場經(jīng)驗,研發(fā)和生產(chǎn)了品種繁多的的測量儀器。質(zhì)量是EPK的主要目標,EPK從研發(fā)到使用、維修各個環(huán)節(jié),都符合ISO 9001:20

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  • 麥考特MikroTest G6現(xiàn)貨熱銷
    麥考特MikroTest G6現(xiàn)貨熱銷

    麥考特MikroTest G6現(xiàn)貨熱銷 Elektrophysik麥考特測厚儀MIKROTEST G6易于操作,測量時只需向前旋動指輪到標尺端部,將測頭定在測量區(qū)上,松開自鎖機構(gòu),開始自動測量。MIKROTEST鎖定后,就能直接在標尺上顯示出涂層厚度的正確值,單位μm或mm。按說明書規(guī)定操作,可不間斷地使用很多年,為您進行質(zhì)量控制。Mikrotest 6 型測厚儀

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  • GalvanoTest 3000庫侖法鍍層測厚儀
    庫侖法鍍層測厚儀

    庫侖法鍍層測厚儀 GalvanoTest3000 庫倫法測厚儀根據(jù)法拉第原理測量,測量簡單方便,易于更換電解液,密封性好,用于快速轉(zhuǎn)換多層應(yīng)用,是一種基于微處理器的儀器,具有交互式LCD。它適用于測量各種電鍍應(yīng)用。測量應(yīng)用程序可以通過觸摸板輸入,并在大字母數(shù)字顯示屏上顯示??蛇B接外圍設(shè)備傳輸數(shù)據(jù),可預(yù)置10種金屬的測量參數(shù)。

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  • EPK ElektroPhysik FH7200 FH現(xiàn)貨代理
    EPK ElektroPhysik FH7200 FH現(xiàn)貨代理

    EPK ElektroPhysik FH7200 FH現(xiàn)貨代理:MiniTest 7200是便攜式的厚度測量工具,可準確測量厚達10mm的材料。便攜而小巧的外形使其可在生產(chǎn)現(xiàn)場和實驗室進行操作。MiniTest 7200 FH可在各種非磁性材料上進行簡單,無損,高精度的厚度測量,無論它們的大小、形狀和材質(zhì)如何。它還是尖角,小半徑和復(fù)雜形狀工件理想的測量工具。

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  • 霍爾效應(yīng)MiniTest 7200FH測厚儀
    霍爾效應(yīng)MiniTest 7200FH測厚儀

    霍爾效應(yīng)MiniTest 7200FH測厚儀。 參考球有1 mm,1.5 mm,2.5 mm,4.0 mm(FH 4)和2.5 mm,4 mm,6 mm和9 mm尺寸(FH 10)。 測量范圍已經(jīng)通過磁性參考球延伸,使得還可以測量非常厚的壁,例如由鋁或鈦制成的發(fā)動機部件或非常厚壁的塑料容器。

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  • MIKROTEST S10麥考特膜厚儀現(xiàn)貨
    MIKROTEST S10麥考特膜厚儀現(xiàn)貨

    MIKROTEST S10麥考特膜厚儀現(xiàn)貨、能夠準確的測量鋼上所有非磁性涂層鍍層厚度(如漆、粉末涂層、塑料、鋅、銅、錫及鎳)。測量快速、、無損,三十多年來MICROTEST 已成為被廣泛應(yīng)用的自動測定涂鍍層厚度的儀器。德國的“訣竅”說明它在工藝技術(shù)及精度方面,具有磁性覆層測厚儀的Z高水準。

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